SEM+EDS分析的目的是对药物或材料等成分进行分析的组合检测,既能观察样品的表面形貌又能对微区进行成分分析。武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供SEM+EDS…
工业CT分析的目的是为了得到高质量的 CT 图像,通过对CT图像的分析和相关参数的测量完成最终的检测过程。武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供工业CT分析等…
X-ray测试的目的是检测电子元器件、半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等。武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供X-ray测试等一系…
超声波扫描(C-SAM)分析的目的是无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷。武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供超声波扫描分析等一系列测试。…
红墨水分析的目的是检测材料或工件表面的裂纹、孔洞、缺陷或其他异常,以评估其质量和可靠性。武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供 红墨水分析等一系列测试…
切片(Cross Section)分析的目的是电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供切片分析等一系列测试。…