》》》试验介绍

        超声波扫描显微镜C-mode Scanning Acoustic Microscope简称C-SAM,是用于检测物体表面、内部区域及内部投影,产生高分辨率特征图像的检测技术。由于它能获得反映物体内部信息的声学图像而被广泛应用于无损检测领域，是一种非破坏性的检测技术。

        武汉致一检测是专业检测机构，为广大客户提供超声波扫描分析等一系列测试。

》》》试验目的

        超声波扫描（C-SAM)分析，别称超声波扫描检测、超声波扫描测试、超声波扫描试验。超声波扫描分析的目的是无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。 

》》》试验设备

》》》试验优点

1、非破坏性：C-SAM超声波扫描技术可以在不破坏材料的情况下检测材料内部的缺陷和结构。
2、高分辨率：C-SAM超声波扫描技术可以检测微小的缺陷和结构，具有高分辨率的优势。
3、快速定位：C-SAM超声波扫描技术可以快速准确地检测材料内部的缺陷和结构的位置，提高生产效率和质量改进。

》》》应用范围

1、电子行业：芯片封装和印刷电路板以及半导体器件等。
2、航空航天工业：航空航天零部件，如发动机叶片和涡轮叶片等。
3、医疗领域：医疗设备和器材等。
4、汽车工业：汽车的零部件，比如汽车的发动机零部件以及变速器的零部件等。

》》》试验标准

《IPC/JEDEC J-STD-035 非气密性封装元件的声学显微镜检查方法》
《IPC/JEDEC J-STD-020 非密闭式固态表面安装组件的湿度/回焊敏感性分类》
《IPC/JEDEC J-STF-020 塑料集成电路SMD的潮湿/回流敏感性分类》